品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 电气 |
HN8061A兆欧表检定装置
绝缘电阻表检定装置
依据JJG1005—2005《电子式绝缘电阻表检定规程》、JJG622—1997《绝缘电阻表(兆欧表)检定规程》,用于检定电子式绝缘电阻表的示值误差、跌落电压、短路电流。
二、主要技术指标
绝缘电阻表检定装置(兆欧表检定装置)主要用来检定额定电压≤10000V的绝缘电阻表,也可在绝缘电阻表生产、修理中作标准器具。其电阻器部分可单使用。数字表部分可测5000V的直流电压和大20mA的直流电流。
本检定装置的主要技术性能如下:
㈠ 标准数字表
1、测量范围:
电压分两档:0~5000V 0~10000V
短路电流:0~2mA 0~20mA
电阻0-200G-1T-10T otdr的测量原理光脉冲发生器产生的脉冲驱动半导体激光器而发出的测试光脉冲进入光纤沿途返回到入射端的光。就其物理原因包括两种:一种是由于光纤折射率的不匹配或不连续性而产生的菲涅尔反射;另一种是由于光纤芯折射率,微观的不均匀而引起的瑞利散射。瑞利散射光的强弱与通过该处的光功率成正比。而菲涅尔反射又与光纤的衰耗有直接关系,其强弱也就反映了光纤各点的衰耗大小。由于散射是向四面八方的,因此这些反射光总有一部分传输到输入端。
HN8062A接地电阻表校验装置
用于检定JJG336-2004《接地电阻表检定规程》所适用的我目前生产的型号的模拟式、数字式接地电阻表以及进口的同类仪表,也可做普通电阻箱使用,具有调节范围宽,使用方便,造型美观等优点。 WLP(WaferLevelPackaging):晶圆级封装,是一种以BGA为基础经过改进和提高的CSP,直接在晶圆上进行大多数或是的封装测试程序,之后再进行切割制成单颗组件的方式。上述封装方式中,系统级封装和晶圆级封装是当前受到热捧的两种方式。系统级封装因涉及到材料、工艺、电路、器件、半导体、封装及测试等技术,在技术发展的过程中对以上领域都将起到带动作用促进电子制造产业进步。晶圆级封装可分为扇入型和扇出型,IC制造领域*台积电能够拿下苹果A10订单,其开发的集成扇出型封装技术功不可没。
主要技术指标:
1、模拟接地电阻
步进阻值(Ω) | *1000 | *100 | *10 | *1 | *0.1 | *0.01 | *0.001 |
功率(W) | 0.25 | 0.25 | 0.25 | 0.25 | 0.1 | 0.1 | 0.1 |
基本误差极限(α%) | 0.1 | 0.1 | 0.1 | 0. 1 | 1 | 5 | 10 |
时间常数τ(S) | ≤5*10-6 | ||||||
阻值调节范围(Ω) | 0.1--11111.210 小步进值0.001Ω |
2、模拟辅助接地电阻
电阻值(Ω) | 0 | 500 | 1000 | 2000 | 5000 |
基本误差极限(α%) | <0.05Ω | 1Ω | |||
功率(W) | 0--0.25W |
LED的芯片其实就是个半导体,有如以下的IV曲线。反向电压如果加的过高,LED会因被击穿而损坏,所以很多时候我们需要去测量反向电压。若只是单纯要测量芯片的特性,基本上使用电源和万用表即可。主要可测试的项目包括正向电压、击穿电压、漏电流…测试LED的整体IV曲线特性几个参数正向电压:Vf击穿电压:Vr漏电流:IL这些项目的测试其实并不算困难,但必须要选对合适的测量仪器。若是选择了不适合的测量仪器,测试的值误差则会非常大。
HN8063A耐电压测试仪校验装置
一、性能特点
1、测量准度:
交、直流电压 | 测量范围(分三档) | 1K、10KV、30KV |
准确度 | AC 0.2%×读数+0.1%× | |
DC 0.2%×读数+0.05%× | ||
输入电压 | 30kV | |
电压分辨率 | 0.0001kV | |
交、直流电流 | 总测量范围 | 0.100~400.00(mA) |
准确度 | AC 0.2%×读数+0.1%× | |
DC 0.2%×读数+0.02%× | ||
电流测量 | 0.01~400.00/(mA) | |
交流电压失真度 | 电压输入范围 | 1.000kV ~ 30.00kV |
频率测量范围 | 30次谐波 | |
量程范围 | 0.50% ~ 10.00% | |
准确度 | 优于1% | |
直流电压纹波系数 | 电压输入范围 | 1.000 kV ~ 30.00kV |
测量范围 | 0.50% ~ 10.00% | |
准确度 | 优于1% | |
电压保持时间 | 测量范围 | 1.00s ~ 999.99s |
准确度 | 0.5%±2个字(10s以上0.2%) | |
分辨率 | 0.01s |
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