品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 国产 |
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应用领域 | 电气 |
HNZDL系列可编程直流稳压大电流电源程控直流恒流源厂家
一、产品特点
1、采用超大真彩大液晶触摸屏人机界面,方便直接编程操作。直流开关试验装置见其他详细介绍
2、本机一次可执行不同电压、电流、延迟时间、运行时间的设定,并可连续循环999999次。
3、输出电压可以从零伏起调;输出电流可以从零预置;
4、具有10组记忆组,可以将以前使用过的参数存储,以便下次使用时轻松调用。
5、 具有RS232、RS485通讯接口。功率分析仪在测试时出现的数据跳动、效率异常等现象,很多时候与信号的频率是否准确测量有着很大的关系,本文就对频率测量的重要性进行分析,希望能帮助大家进行更准确的测量。我们来看看为什么频率的测量对其他参数会造成如此大的影响。同步源的选择用过功率分析仪的工程师一定会记得,在对仪器进行设置的时候,一个叫“同步源"的设置选项,该选项包括了各个测试通道的电压和电流,工程师可以自主来进行选择。该选项的选择对直流信号测试影响不大,但对交流信号的测试会有很大的影响。
6、恒定电压、恒定电流之使用, 可自动交叉变换,维持控制与保护兼顾
7、高频PWM硬件调整控制技术,反应速度快,输出稳定
7、具有输出稳压、限流、短路保护和功率器件过热保护功能; 优良的输出稳定性能:源电压效应<0.5%,负载效应<1%;
8、输出直流电压畸变系数低,干扰小; 在短路和过载故障时,可调节限流电位器来限制输出电流值,从额定值的50%至105%之间变化;上升和下降时间决定脉冲行为,因此也决定着雕刻速度。混合气体中的氮会降低脉冲频率至1kHz左右。这对于过去的很多应用已经足够,但对于未来的需求来说是不够的。典型的激光功率和时间关系图显示出±5~1%的偏差值。这不适合控制3D雕刻材料。被测试的激光器的激光指向稳定性出奇的好,这对于声光调制器的使用(对入射角非常敏感)将起着直接的影响。在接近声光调制器的功率极*,锗晶体对不良的激光场模式非常敏感。
9、适用于阻性、感性等负载;负载适应性强;
二、主要用途及适用范围
1、电解电容器老练,钽电容器赋能
2、电阻器、继电器,马达等电子元件老练,例行试验
3、实验室,电子设备、自动测试设备
4、电子检验设备、生产线设备、通讯设备
,testo33LL可以测量压差,然而在燃烧器调试等一些应用,压力传感器的精度并不能满足检测需求。德图带你领略testo33LL烟气分析仪不一样的压力测量技能。安装方式:将环境温度传感器从testo33LL上取下,并安装在精密压力探头上。将精密压力探头通讯电缆连接至testo33LL上的环境温度传感器插口。将软管连接至测量压力接口。按照上述方式完成精密压力探头的安装,即可进行差压测量,精度可达±.3Pa,测量速率max.1米/秒。交流输入 15KW以下(单相110V±10%、220V±10%、或者三相380V±15%)
15KW以上(三相380V±15%)
频率:50HZ、60HZ、400HZ任选
直流输出 电压(稳压值CC):0- 6000V连续可调
电流(恒流值CV):0- 100000A连续可调
源电压效应 ≤0.2%有效值 CAN一致性测试主要分为物理层、链路层、应用层三大部分测试内容。在CAN网络中,各节点遵循CAN一致性测试是保证总线稳定运行的重要前提。在物理层中,CAN总线设计规范对于CAN节点的输入电压阈值有着严格的规定,如果节点的输入电压阈值不符合规范,则在现场组网后容易出现不正常的工作状态,各节点间出现通信故障,所以输入电压阈值测试也是CAN物理层一致性测试中的重要部分。测试标准每个厂家在产品投入使用前,都要进行CAN节点的输入电压阈值测试,一般都是遵循ISO11898-2输入电压阈值标准,具体要求如表1所示。
负载效应 稳压精度:≤0.5%有效值(阻性负载)
恒流精度:≤0.5%有效值(阻性负载)
输出纹波 稳压状态(CC):≤0.3%+10mV(rms)(有效值)
稳流状态(CV):≤0.5%+10mA(rms)(有效值)
输出显示 4位半数字表 精度 :±1% +1个字
显示格式 00.00V-19.99V;000.0V-199.9V;0000V-1999V;
电压电流设定 多圈电位器、按键式、液晶触摸屏(可选)
过压保护 内置O.V.P保护,保护值为额定值+5%,保护后关闭输出,重新开机解锁
过流保护 过载、短路、定电流输出半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、制造、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。程控直流恒流源厂家其典型的信噪比为55dB,而8位示波器一般只有35~40dB。是将一个多谐波信号分别输入到8位和12位示波器,转化到频域观察的图形。两者频域的垂直刻度和基准都一样。可以看出,12位示波器的频域噪底比8位示波器低大约lOdB。我们来看一个实际的测试案例:需要对某开关电源产品中的功率MOS管进行分析。其中有一个测试项是MOS管导通损耗。分别用电压和电流探头测量漏源电压Vds与漏极电流Ids,在示波器上将两个波形相乘得到功率波形,导通期间的功率就是导通损耗。
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